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晶圓探針臺

型號：LNP-3RT/3
應用領域：
晶圓探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境。 探針臺可實現精準可靠的測試與測量分析，幫助精準測量和分析判斷晶圓器件的性能，包括提供材料/器件的IV/CV特性測試、LD/LED/PD的光強/波長測試，射頻特性器件失效分析，芯片內部線路/電極/PAD測試等技術解決方案
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